Swide--西班牙Sensofar三维光学表面分析仪

Sensofar S wide 大尺寸3D轮廓测量仪 Swide3D光学测量系统专为大面积样品设计，最大测量范围300x300mm。采用条纹投影技术，实现亚微米级重复性与一键式秒级采集。集成高分辨率成像及GD&T、CAD比较等分析工具，高效获取粗糙度、平整度等关键数据。