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Sensofar sneox半导体热致形变原位表征系统
S-neox3D光学轮廓仪集成白光干涉与共聚焦技术,垂直分辨率达0.01nm。搭配高温热台,实现半导体材料从深低温至高温的原位无损形貌监测,精准捕捉热应力下的微观演化。
Sensofar共聚焦白光干涉仪Sneox
Sneox3D光学轮廓仪集AI多焦面、共聚焦、干涉及薄膜测量四合一技术,具备纳米级分辨率与超快采集速度。支持高斜率表面及透明膜厚测量,符合ISO标准,适用于高端精密检测。
西班牙Sensofar S neox共聚焦显微镜新用户操作指南
SensofarSneox凭借引导式软件降低使用门槛。流程涵盖样品定位、自动对焦、模式选择、自动扫描及数据分析报告生成,支持一键操作,助新手快速上手三维测量。
S neox
Sensox集成共聚焦、白光干涉及AI多焦面技术,非接触式高精度测量表面形貌。支持多模式自动切换与3D重建,符合ISO标准,广泛应用于半导体及精密制造领域。
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主营产品:
激光共聚焦显微镜
轮廓仪
金相显微镜
立体显微镜
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