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Sensofar S neox 白光干涉测量平台

Sensofar S neox 白光干涉测量平台

Sensofar融合共聚焦、白光干涉与AI多焦面叠加技术，提供纳米至工业尺度精密测量方案。其设备兼具高精度与高效率，广泛服务于半导体、医疗及航空航天领域，重塑制造质量标准。

Sensofar纳米级表面形貌分析仪S-neox

Sensofar纳米级表面形貌分析仪S-neox

Sensofar融合共聚焦、白光干涉与AI多焦面叠加技术，提供纳米至工业尺度精密测量方案。其设备兼具高精度与高效率，广泛服务于半导体、医疗及航空航天领域，重塑制造质量标准。

Sensofar Sneox热台联用三维形貌测量工作站

Sensofar Sneox热台联用三维形貌测量工作站

S-neox3D光学轮廓仪集成白光干涉与共聚焦技术，垂直分辨率达0.01nm。搭配高温热台，实现半导体材料从深低温至高温的原位无损形貌监测，精准捕捉热应力下的微观演化。

SensofarS neox 半导体变温三维表征系统

SensofarS neox 半导体变温三维表征系统

S-neox3D光学轮廓仪集成白光干涉与共聚焦技术，垂直分辨率达0.01nm。搭配高温热台，实现半导体材料从深低温至高温的原位无损形貌监测，精准捕捉热应力下的微观演化。

西班牙Sensofar共聚焦白光干涉仪Sneox

Sensofar共聚焦白光干涉仪Sneox

Sneox3D光学轮廓仪集AI多焦面、共聚焦、干涉及薄膜测量四合一技术，具备纳米级分辨率与超快采集速度。支持高斜率表面及透明膜厚测量，符合ISO标准，适用于高端精密检测。

西班牙Sensofar S neox在航空航天中的应用

S-neox

SensofarSneox白光干涉仪提供非接触三维测量，专用于航空航天部件检测。可量化叶片粗糙度、监测疲劳裂纹及评估涂层质量，助力研发、制造与维护，确保极端环境下的部件安全与可靠性。

视芯光学国产共聚焦白光干涉仪

T100

T系列光学轮廓仪融合干涉、共聚焦及AI多焦面三合一技术，实现高效精准测量。系统紧凑便携，支持大面积拼接与多物镜切换，采集计算内置，操作简便，适用于实验室及产线。

西班牙Sensofar S neox白光干涉仪新用户操作指南

西班牙Sensofar S neox白光干涉仪新用户操作指南

SensofarSneox凭借引导式软件降低使用门槛。流程涵盖样品定位、自动对焦、模式选择、自动扫描及数据分析报告生成，支持一键操作，助新手快速上手三维测量。

视芯光学国产光学3D轮廓仪

视芯光学国产光学3D轮廓仪

T系列光学轮廓仪融合干涉、共聚焦及AI多焦面三合一技术，实现高效精准测量。系统紧凑便携，支持大面积拼接与多物镜切换，采集计算内置，操作简便，适用于实验室及产线。

视芯光学T100国产半导体封装三维形貌检测系统

视芯光学T100国产半导体封装三维形貌检测系统

T系列光学轮廓仪融合干涉、共聚焦及AI多焦面三合一技术，实现高效精准测量。系统紧凑便携，支持大面积拼接与多物镜切换，采集计算内置，操作简便，适用于实验室及产线。

西班牙Sensofar微电子器件形貌表征系统

西班牙Sensofar Swide微电子器件形貌表征系统

西班牙Sensofar Swide微电子器件形貌表征系统 Sneox3D光学轮廓仪集共聚焦、干涉等四合一技术，具备纳米级分辨率与高速测量能力。支持大斜率及透明薄膜检测，符合ISO标准，适用于高精度表面形貌分析。

半导体封装三维形貌检测系统

视芯光学T100 半导体封装三维形貌检测系统

T系列光学轮廓仪融合干涉、共聚焦及AI多焦面三合一技术，实现高效精准测量。系统紧凑便携，支持大面积拼接与多物镜切换，采集计算内置，操作简便，适用于实验室及产线。

西班牙Sensofar白光干涉仪S neox

S neo x

Sensofar S neox 半导体封装检测系统 Sneox3D光学轮廓仪集共聚焦、干涉等四合一技术，具备纳米级分辨率与高速测量能力。支持大斜率及透明薄膜检测，符合ISO标准，适用于高精度表面形貌分析。

材料表面特性综合表征系统

视芯T100

T系列光学轮廓仪融合干涉、共聚焦及AI多焦面三合一技术，实现高效精准测量。系统紧凑便携，支持大面积拼接与多物镜切换，采集计算内置，操作简便，适用于实验室及产线。

视芯光学国产光学轮廓仪

视芯光学国产光学轮廓仪

T系列光学轮廓仪融合干涉、共聚焦及AI多焦面三合一技术，实现高效精准测量。系统紧凑便携，支持大面积拼接与多物镜切换，采集计算内置，操作简便，适用于实验室及产线。

国产光学轮廓仪

T100

T系列光学轮廓仪融合干涉、共聚焦及AI多焦面三合一技术，实现高效精准测量。系统紧凑便携，支持大面积拼接与多物镜切换，采集计算内置，操作简便，适用于实验室及产线。

西班牙Sensofar S neox精密机械零部件表面轮廓仪

Sensofar S neox精密机械零部件表面轮廓仪

Sensofar S neox 半导体封装检测系统 Sneox3D光学轮廓仪集共聚焦、干涉等四合一技术，具备纳米级分辨率与高速测量能力。支持大斜率及透明薄膜检测，符合ISO标准，适用于高精度表面形貌分析。

视芯T100国产工业在线三维表面检测设备

视芯T100国产工业在线三维表面检测设备

T系列光学轮廓仪融合干涉、共聚焦及AI多焦面三合一技术，实现高效精准测量。系统紧凑便携，支持大面积拼接与多物镜切换，采集计算内置，操作简便，适用于实验室及产线。

视芯光学T100国产非接触式三维轮廓测量系统

T10 0

T系列光学轮廓仪融合干涉、共聚焦及AI多焦面三合一技术，实现高效精准测量。系统紧凑便携，支持大面积拼接与多物镜切换，采集计算内置，操作简便，适用于实验室及产线。

视芯T100微纳表面轮廓测量仪

T-100

T系列光学轮廓仪融合干涉、共聚焦及AI多焦面三合一技术，实现高效精准测量。系统紧凑便携，支持大面积拼接与多物镜切换，采集计算内置，操作简便，适用于实验室及产线。

视芯T100新能源电池表面表征分析仪

T 100

T系列光学轮廓仪融合干涉、共聚焦及AI多焦面三合一技术，实现高效精准测量。系统紧凑便携，支持大面积拼接与多物镜切换，采集计算内置，操作简便，适用于实验室及产线。

Sensofar粗糙度仪S neox

neoxS

Sensofar粗糙度测量仪Sneox集成共聚焦、白光干涉及多焦面技术，无需更换硬件即可测量超光滑至粗糙表面。支持自动3D分析与ISO标准评估，广泛应用于半导体、精密制造等领域的无损三维形貌检测。

Sneox 3D 光学轮廓仪

Sneox

Sneox 是 Sensofar 新一代高端 3D 光学轮廓仪，集成共聚焦、干涉（PSI/CSI/ePSI）、Ai 多焦面叠加及膜厚测量四种技术。该系统高效的数据采集，具备纳米级垂直分辨率和高斜率测量能力。专为研发与质量管控设计，符合 ISO 25178 国际标准，适用于从超光滑到粗糙表面的无损精密测量。

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