Sensofar3D结构光轮廓测量仪S-wide

Sensofar3D结构光轮廓测量仪S-wide

品牌:Sensofar
产地:西班牙
型号:S-wide

400-616-7676转3338

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核心参数

产品种类:非接触式轮廓仪/粗糙度仪
工作原理:白光干涉仪

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产品种类

非接触式轮廓仪/粗糙度仪

工作原理

白光干涉仪

仪器介绍

大面积3D光学测量系统



S wide 3D轮廓测量仪是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。


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快速测量


采集只需一秒钟。利用 S wide 3D轮廓测量仪的条纹投影技术和一系列不同的采集模式,可以优化测量以实现超高的量测效率。



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易于使用


使用 S wide 3D轮廓测量仪进行测量非常简单:加载样品、设置方法以及检查结果。



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捕捉每个细节


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高分辨率 3D 成像

这款 3D 轮廓测量仪配备 500 万像素彩色摄像头,加上数字变焦功能,可捕捉样品的各种细节。



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大型设置


工业测量解决方案

借助 300 x 300 毫米的平台配置,可测量大量样品阵列和大面积区域。

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亚微米级重复性



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精密光学测量

S wide 3D轮廓测量仪采用专有的条纹投影算法,可实现微米级精度,在大面积的测量表面上提供无与伦比的亚微米高度重复性。



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高效的数据提取


S wide 3D轮廓测量仪配备了一套分析工具,可以从测量数据中提取每条信息:粗糙度和平整度参数、关键尺寸、GD&T 和 CAD 比较。

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平整度

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粗糙度

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GD&T 和 CAD 比较

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关键尺寸





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