CMOS高温形变的动态追踪:Sensofar实现可视化分析

2026/10/29 15:25 I 阅读:8

应用领域

半导体

检测样品

可靠性测试

检测项目

无

参考标准

/

发布时间

2026/10/29

方案详情

CMOS高温形变的动态追踪:Sensofar实现可视化分析 Sensofar的S neox 3D光学轮廓仪在测量后会生成大量不同温度梯度下的三维形貌数据。想要高效对比、量化、直观呈现升温全过程形变差异,依靠SensoMap分析软件即可完成全流程数据处理。

产品配置单

分析仪器

西班牙Sensofar共聚焦白光干涉仪Sneox

型号:Sensofar共聚焦白光干涉仪Sneox

品牌:Sensofar

产地:西班牙

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西班牙Sensofar共聚焦白光干涉仪Sneox-粗糙度仪

型号: 西班牙Sensofar共聚焦白光干涉仪Sneox

品牌:Sensofar

产地:西班牙

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西班牙Sensofar共聚焦白光干涉仪Sneox

型号: Sensofar共聚焦白光干涉仪Sneox

品牌:Sensofar

产地:西班牙

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Sensofar S neox共聚焦白光干涉仪-台阶仪

型号:Sensofar S neox

品牌:Sensofar

产地:西班牙

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