2026/10/29 15:25 I 阅读:8
应用领域
半导体
检测样品
可靠性测试
检测项目
无
参考标准
/
发布时间
2026/10/29
方案详情
CMOS高温形变的动态追踪:Sensofar实现可视化分析 Sensofar的S neox 3D光学轮廓仪在测量后会生成大量不同温度梯度下的三维形貌数据。想要高效对比、量化、直观呈现升温全过程形变差异,依靠SensoMap分析软件即可完成全流程数据处理。
产品配置单
分析仪器
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CMOS高温形变的动态追踪Sensofar实现可视化分析.docx
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