应用分享 | Sensofar 3D光学轮廓仪在半导体精密三维测量上的应用

2026/08/17 16:03 I 阅读:19

应用领域

半导体

检测样品

表面形貌与粗糙度分析

检测项目

参考标准

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发布时间

2026/08/17

方案详情

随着半导体制造工艺向更先进制程节点快速演进,精密三维测量技术已成为支撑产业技术升级与良率提升的核心能力。"半导体制造中的精密三维测量技术"主题网络研讨会,聚焦该领域的前沿技术突破与产业化应用,深入探讨了从纳米级形貌表征到在线检测集成的全链条解决方案,为行业技术发展方向提供了重要参考。

产品配置单

分析仪器

Sensofar3D光学轮廓仪Sneox090

型号:S-neox

品牌:Sensofar

产地:西班牙

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